objektif
Asire ke pwodwi yo nan konpayi an satisfè kondisyon kliyan, bay yon baz pou enspeksyon pwodwi, epi asire bon jan kalite pwodwi.
Dimansyon aplikasyon an
Estanda sa a aplike a tout pwodwi modil TFT ki te pwodwi pa XX.
Ekipman pou fè tès
Elektrik machin pou mezire, aparèy tès, loup, lanp fliyoresan, vernier konpa
Plan echantiyonaj epi tcheke kondisyon anviwònman an
Inite fabrikasyon an (oswa pwosesis QC) fè enspeksyon konplè pou enspeksyon aparans ak tès pèfòmans elektrik, ak pou mezi gwosè oswa enspeksyon espesyal, se premye moso nan chak modèl echantiyon ak teste 5pcs.
Inite a bon jan kalite mezire 5pcs pou echantiyon an premye nan chak modèl, ak adopte GB / —2012 enspeksyon nòmal yon sèl-fwa echantiyon plan an pou enspeksyon an aparans, ak nivo enspeksyon jeneral la se II.
Nivo ki pa kalifye | Nivo ki akseptab (AQL) | Kalite evalyasyon estanda kalite |
Main defisyans | Si gwosè a se defektye, 0 resevwa 1 retounen | |
Soumèt | ||
total |
Egzaminatè a bezwen mete yon bag elektwostatik ak uit kabann dwèt sou tou de men.Si li se yon LCD san yo pa yon polarizè tache, tout dwèt yo ta dwe mete kabann dwèt.
Egzaminatè a ka vizyèlman tcheke oswa konpare ak tablo konparezon fim lan.
Tanpri gade nan echantiyon an pou tès elektrik la lè l sèvi avèk aparèy tès ak ekran ekspozisyon.
Distans ki genyen ant je enspektè a ak pwodwi a se 30 ~ 40 cm. Ang vizyon enspeksyon an se ± 15 degre sou sifas devan panèl ekspozisyon vètikal la ak ± 45 degre sou sifas devan panèl ekspozisyon orizontal la (gade figi ki anba a)

Ekleraj anviwònman: 800 ~ 1200LUX pou enspeksyon vizyèl
Tanperati anviwònman: 25 ± 5 ℃
Imidite: 25 ~ 75% RH
Tcheke atik la
(1) Definisyon domaj pwen ki te koze pa panno entèn yo.
a) Tach klere: klere, konstan ki menm gwosè ak pwen parèt sou LCD a anba modèl la nwa.
b) Pwen nwa: Nan foto yo pi wouj, vèt, ak ble, pwen nwa ak menm gwosè a parèt sou LCD a.
c) 2 pwen adjasan = 1 pè = 2 pwen.

Montre chèk la
atik | deskripsyon | Akseptab kantite | MAJ | MIN | |
Pwen esansyèl | o aza | N≤3 | √ | ||
De pwen adjasan | N≤0 | ||||
De pwen adjasan | N≤0 | ||||
distans | Distans minimòm ant de tach klere | 5mm | |||
tach nwa | o aza | N≤4 | √ | ||
De pwen adjasan | N≤0 | ||||
De pwen adjasan | N≤0 | ||||
Kantite total tach nwa ak tach klere | N≤6 | √ | |||
distans | Distans minimòm ant de tach klere (tach nwa) | 5mm | √ | ||
Ti en | D≤can be ignored,<D≤, N≤4,spacing≧5mmD(Point diameter) | √ | |||
Show fault | V/H line/line crossover line etc. | Not allowed | √ | ||
Chromatic aberration, uneven; ripple; hot spot | Pass 5% filter under 50% dark light | Invisible, can be judged by limit sample if necessary | √ |
*Note: Defects on the black matrix (outside the active area) are not considered defects
Visual inspection
Remarks:
1. Ignore any defects on the protective film of the polarizer, such as scratches, bubbles and particles on the protective film.
2. The angle of all damage must be greater than 90 degrees as shown on the right.
3. If the customer has specified requirements according to customer requirements.
